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        1. 圖甲中bacd為導體作成的框架.其平面與水平面成θ角.質(zhì)量為m的導體棒PQ與ab.cd接觸良好.回路的電阻為R.整個裝置放于垂直于框架平面的變化的磁場中.磁感應(yīng)強度的變化如圖乙.PQ始終靜止.在0―ts內(nèi).PQ受到的摩擦力的變化情況可能是A.f一直增大 B.f一直減小C.f先減小后增大 D.f先增大后減小 查看更多

           

          題目列表(包括答案和解析)

          圖甲中bacd為導體作成的框架,其平面與水平面成θ角。質(zhì)量為m的導體棒PQabcd接觸良好,回路的總電阻為R,整個裝置放于垂直于框架平面的變化的磁場中,磁感應(yīng)強度的變化如圖乙所示。已知PQ始終靜止,則在0~t0s內(nèi),PQ受到的摩擦力f的變化情況可能是

          A.f一直增大

          B.f一直減小

          C.f先減小后增大

          D.f先增大后減小

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          圖甲中bacd為導體作成的框架,其平面與水平面成θ角,質(zhì)量為m的導體棒PQ與ab、cd接觸良好,回路的電阻為R,整個裝置放于垂直于框架平面的變化的磁場中,磁感應(yīng)強度的變化如圖乙,PQ始終靜止,在0-ts內(nèi),PQ受到的摩擦力的變化情況可能是:

          A.f一直增大

          B.f一直減小

          C.f先減小后增大

          D.f先增大后減小

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